Nesta postagem, gostaríamos de compartilhar um artigo publicado pelo IEEE. Ele explica a correlação entre a descarga eletrostática e as falhas de software. O título e o resumo do artigo são fornecidos abaixo.
Título: Técnicas de medição para identificar a sensibilidade de falhas leves a ESD
Resumo: As falhas leves induzidas por descarga eletrostática (ESD) são um problema crítico para os sistemas eletrônicos, pois as falhas são encontradas principalmente após a conclusão do projeto de hardware. Qualquer alteração aplicada ao hardware pode atrasar o projeto. As ferramentas de diagnóstico capazes de identificar defeitos induzidos por falhas leves em um estágio inicial do projeto do produto ajudam a reduzir o risco de atrasos no projeto induzidos por ESD no estágio final. Em muitos casos, as falhas leves podem ser observadas diretamente pela interface do usuário, pela falha do sistema ou por outros indicadores óbvios. No entanto, em um estágio inicial de design do produto, o sistema operacional pode ser marginal e os aplicativos podem não estar disponíveis. Para melhorar a capacidade de detectar escolhas de projeto críticas para falhas leves, este documento apresenta vários métodos para identificar alterações induzidas por ESD que podem não ser observáveis por meio de observação direta. Esses métodos incluem a observação de correntes CA ou CC, o monitoramento de tensões CC, a captura de campos próximos e seu processamento por meio de transformada rápida de Fourier (FFT) de curto prazo, transformação de wavelet, mixagem para a faixa audível e monitoramento de travamento por meio de imagens térmicas. O documento apresenta a base de cada método, mostra exemplos e os compara quanto à capacidade de detecção.
J. Zhou et al., “Measurement Techniques to Identify Soft Failure Sensitivity to ESD,” in IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 62, no. 4, pp. 1007-1016, Aug. 2020, doi: 10.1109/TEMC.2019.2926962.
Você pode acessar o artigo completo clicando neste link do IEEE. Para acessar o artigo completo, você precisa fazer login no IEEE.
Agradecimentos aos autores deste artigo.
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